电离层光度计（IPM-Ⅱ），通过对远紫外电离层OI 135.6nm 和N2LBH的气辉辐射强度的测量，反演电离层电子总含量（TEC）、O/N2等参数，并可直接获取电离层赤道异常区的二维精细结构，准确定位极光边界。
